走査電子顕微鏡 (SEM):日本電子 JSM-6060S(EDS検出器JED-2300つき)

走査型電子顕微鏡 (SEM)

電界放出型走査電子顕微鏡 (FE-SEM):日本電子 JSM-6700F

電界放射型走査電子顕微鏡 (FE-SEM)

共焦点レーザースキャン顕微鏡 (LSCM):Carl Zeiss LSM 5 Pascal

共焦点レーザースキャン顕微鏡 (LSCM)

X線回折装置 (XRD):リガク RINT Ultima III(小角X線散乱 (SAXS) ユニットつき)

X線回折装置(XRD)

ガス吸着測定装置 1:日本ベル BELSORP-max

ガス吸着測定装置

ガス吸着測定装置 2:日本ベル BELSORP-mini II

ガス吸着測定装置

ヘリウムピクノメーター:Quantachrome Instruments Ultrapyc 1200e

ヘリウムピクノメーター

比重測定装置:島津 SGM-300P

比重測定装置

熱分析装置 1 (TG-DTA, DSC):リガク Thermo plus EVO (TG 8120, DSC 8230)

熱分析装置1

熱分析装置 2 (DSC):TAインスツルメンツ Q200

熱分析装置2

超臨界乾燥試験機:三菱マテリアルテクノ(カスタム製)

超臨界乾燥試験機

フーリエ変換赤外分光光度計 (FTIR):島津 IRAffinity-1

フーリエ変換赤外分光光度計 (FTIR)

紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR):日本分光 V-670(積分球ユニットISN-723つき)

紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR)

力学試験機:島津 EZGraph(一軸圧縮、三点曲げ試験に対応)

力学試験機

力学試験機:島津 Autograph AG-Xplus(可変温度下での引張、一軸圧縮、三点曲げ試験に対応)

力学試験機new

真空パージ式チューブ炉:光洋サーモシステム KTF434N1

真空パージ式チューブ炉

自動接触角計:Kyowa Interface Science Co., Ltd. Drop Master (DM-561Hi)

自動接触角計

高速液体クロマトグラフ

高速液体クロマトグラフ

高速液体クロマトグラフ

ポテンショスタット:Bio Logic Science Instruments SP-150

ポテンショスタット

レーザー回折式粒度分布測定装置:島津 SALD-2200

レーザー回折式粒度分布測定装置

熱流束計:NETZSCH HFM 436 Lambda (HFM 436/3/1)

熱流束計

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Last-modified: 2017-07-19 (水) 16:10:22 (727d)