**走査型電子顕微鏡 (SEM):日本電子 JSM-6060S(EDS検出器 JED-2300インストール済) [#haf5d50f] CENTER:&ref(sem.jpg,nolink,走査型電子顕微鏡 (SEM)); **電界放射型走査電子顕微鏡 (FE-SEM):日本電子 JSM-6700F [#m61742ed] CENTER:&ref(fesem.jpg,nolink,電界放射型走査電子顕微鏡 (FE-SEM)); **共焦点レーザースキャン顕微鏡 (LSCM):Carl Zeiss LSM 5 Pascal [#tbd11f9b] CENTER:&ref(lscm.jpg,nolink,共焦点レーザースキャン顕微鏡 (LSCM)); **X線回折装置 (XRD):リガク RINT Ultima III(小角X線散乱 (SAXS) ユニットつき) [#cdd8dfa9] CENTER:&ref(xrd.jpg,nolink,X線回折装置(XRD)); **ガス吸着測定装置 1:日本ベル BELSORP-max [#fd3d1060] CENTER:&ref(belsorpmax.jpg,nolink,ガス吸着測定装置); **ガス吸着測定装置 2:日本ベル BELSORP-mini II [#n4d4d74a] CENTER:&ref(belsorp.jpg,nolink,ガス吸着測定装置); **ヘリウムピクノメーター:Quantachrome Instruments Ultrapyc 1200e [#td20ac5c] **比重測定装置:島津 SGM-300P [#q75f82f9] CENTER:&ref(density.jpg,nolink,比重測定装置); **熱分析装置 1 (TG-DTA,DSC):リガク Thermo plus EVO (TG 8120, DSC 8230) [#hd0186ce] CENTER:&ref(tg-dta.jpg,nolink,熱分析装置); **熱分析装置 2 (DSC):TAインスツルメンツ Q200 [#l0abd2ae] CENTER:&ref(dsc.jpg,nolink,熱分析装置); **超臨界乾燥試験機:三菱マテリアルテクノ(カスタム製) [#a6cb7446] CENTER:&ref(scd.jpg,nolink,超臨界乾燥試験機); **フーリエ変換赤外分光光度計 (FTIR):島津 IRAffinity-1 [#v6991c7c] CENTER:&ref(ftir.jpg,nolink,フーリエ変換赤外分光光度計 (FTIR)); **紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR):日本分光 V-670(積分球ユニットISN-723つき) [#zf6da98c] CENTER:&ref(uv.jpg,nolink,紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR)); **力学試験機:島津 EZGraph(引張、一軸圧縮、三点曲げ試験に対応) [#t22718d1] CENTER:&ref(ezgraph.jpg,nolink,力学試験機); **真空パージ式チューブ炉:光洋サーモシステム KTF434N1 [#n28fe694] CENTER:&ref(tube-furnace.jpg,nolink,真空パージ式チューブ炉); **自動接触角計:Kyowa Interface Science Co., Ltd. Drop Master (DM-561Hi) [#g651aa17] CENTER:&ref(contact-angle.jpg,nolink,自動接触角計); **高速液体クロマトグラフ[#kf41fddd] CENTER:&ref(hplc.jpg,nolink,高速液体クロマトグラフ);&br;&br; CENTER:&ref(hplc2.jpg,nolink,高速液体クロマトグラフ); **ポテンショスタット:Bio Logic Science Instruments SP-150 [#kf912636] CENTER:&ref(potentiostat.jpg,nolink,ポテンショスタット); **レーザー回折式粒度分布測定装置:島津 SALD-2200[#kf912636] CENTER:&ref(sald.jpg,nolink,レーザー回折式粒度分布測定装置); **熱流束計:NETZSCH HFM 436 Lambda (HFM 436/3/1) [#x337a6a3] CENTER:&ref(hfm.jpg,nolink,熱流束計);