電界放出型走査電子顕微鏡 (FE-SEM)：日本電子 JSM-6700F †

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X線回折装置 (XRD)：リガク RINT Ultima III（小角X線散乱 (SAXS) ユニットつき） †

X線回折装置(XRD)
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ガス吸着測定装置 1：日本ベル BELSORP-max †

ガス吸着測定装置
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ガス吸着測定装置 2：日本ベル BELSORP-mini II †

ガス吸着測定装置
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ヘリウムピクノメーター：Quantachrome Instruments Ultrapyc 1200e †

ヘリウムピクノメーター
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熱分析装置 1 (TG-DTA, DSC)：リガク Thermo plus EVO (TG 8120, DSC 8230) †

熱分析装置1
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超臨界乾燥試験機：三菱マテリアルテクノ（カスタム製） †

超臨界乾燥試験機
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フーリエ変換赤外分光光度計 (FTIR)：島津 IRAffinity-1 †

フーリエ変換赤外分光光度計 (FTIR)
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紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR)：日本分光 V-670（積分球ユニットISN-723つき） †

紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR)
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力学試験機：島津 Autograph AG-Xplus（可変温度下での引張、一軸圧縮、三点曲げ試験に対応） †

力学試験機new
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真空パージ式チューブ炉：光洋サーモシステム KTF434N1 †

真空パージ式チューブ炉
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自動接触角計：Kyowa Interface Science Co., Ltd. Drop Master (DM-561Hi) †

自動接触角計
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高速液体クロマトグラフ †

高速液体クロマトグラフ

高速液体クロマトグラフ
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レーザー回折式粒度分布測定装置：島津 SALD-2200 †

レーザー回折式粒度分布測定装置
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熱流計：NETZSCH HFM 436 Lambda (HFM 436/3/1) †

熱流束計
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