走査型電子顕微鏡 (SEM)：日本電子 JSM-6060S（EDS検出器 JED-2300インストール済） †
電界放射型走査電子顕微鏡 (FE-SEM)：日本電子 JSM-6700F †
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共焦点レーザースキャン顕微鏡 (LSCM)：Carl Zeiss LSM 5 Pascal †
X線回折装置 (XRD)：リガク RINT Ultima III（小角X線散乱 (SAXS) ユニットつき） †
ガス吸着測定装置 1：日本ベル BELSORP-max †
ガス吸着測定装置 2：日本ベル BELSORP-mini II †
ヘリウムピクノメーター：Quantachrome Instruments Ultrapyc 1200e †
比重測定装置：島津 SGM-300P †
熱分析装置 1 (TG-DTA,DSC)：リガク Thermo plus EVO (TG 8120, DSC 8230) †
熱分析装置 2 (DSC)：TAインスツルメンツ Q200 †
超臨界乾燥試験機：三菱マテリアルテクノ（カスタム製） †
フーリエ変換赤外分光光度計 (FTIR)：島津 IRAffinity-1 †
紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR)：日本分光 V-670（積分球ユニットISN-723つき） †
力学試験機：島津 EZGraph（引張、一軸圧縮、三点曲げ試験に対応） †
真空パージ式チューブ炉：光洋サーモシステム KTF434N1 †
自動接触角計：Kyowa Interface Science Co., Ltd. Drop Master (DM-561Hi) †
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高速液体クロマトグラフ †
ポテンショスタット：Bio Logic Science Instruments SP-150 †
レーザー回折式粒度分布測定装置：島津 SALD-2200 †
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