走査型電子顕微鏡 (SEM):日本電子 JSM-6060S(EDS検出器 JED-2300インストール済) †
電界放射型走査電子顕微鏡 (FE-SEM):日本電子 JSM-6700F †
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共焦点レーザースキャン顕微鏡 (LSCM):Carl Zeiss LSM 5 Pascal †
X線回折装置 (XRD):リガク RINT Ultima III(小角X線散乱 (SAXS) ユニットつき) †
ガス吸着測定装置 1:日本ベル BELSORP-max †
ガス吸着測定装置 2:日本ベル BELSORP-mini II †
ヘリウムピクノメーター:Quantachrome Instruments Ultrapyc 1200e †
比重測定装置:島津 SGM-300P †
熱分析装置 1 (TG-DTA,DSC):リガク Thermo plus EVO (TG 8120, DSC 8230) †
熱分析装置 2 (DSC):TAインスツルメンツ Q200 †
超臨界乾燥試験機:三菱マテリアルテクノ(カスタム製) †
フーリエ変換赤外分光光度計 (FTIR):島津 IRAffinity-1 †
紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR):日本分光 V-670(積分球ユニットISN-723つき) †
力学試験機:島津 EZGraph(引張、一軸圧縮、三点曲げ試験に対応) †
真空パージ式チューブ炉:光洋サーモシステム KTF434N1 †
自動接触角計:Kyowa Interface Science Co., Ltd. Drop Master (DM-561Hi) †
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高速液体クロマトグラフ †
ポテンショスタット:Bio Logic Science Instruments SP-150 †
レーザー回折式粒度分布測定装置:島津 SALD-2200 †
熱流束計:NETZSCH HFM 436 Lambda (HFM 436/3/1) †