**電界放出型走査電子顕微鏡 (FE-SEM)：日本電子 JSM-IT500HR [#nb3996d2]
CENTER:&ref(SEM.jpg,nolink,電界放出型走査電子顕微鏡 (FE-SEM));
**X線回折装置 (XRD)：リガク RINT Ultima III（小角X線散乱 (SAXS) ユニットつき） [#cdd8dfa9]
CENTER:&ref(xrd.jpg,nolink,X線回折装置(XRD));
**ガス吸着測定装置 1：日本ベル BELSORP-max [#fd3d1060]
CENTER:&ref(belsorpmax.jpg,nolink,ガス吸着測定装置);
**ガス吸着測定装置 2：日本ベル BELSORP-mini II [#n4d4d74a]
CENTER:&ref(belsorp.jpg,nolink,ガス吸着測定装置);
**ヘリウムピクノメーター：マイクロトラックベル BELPycno  [#td20ac5c]
CENTER:&ref(pyc.jpg,nolink,ヘリウムピクノメーター);
**熱分析装置 (TG-DTA, DSC)：リガク Thermo plus EVO [#hd0186ce]
CENTER:&ref(tg-dta.jpg,nolink,熱分析装置1);
**超臨界乾燥試験機：三菱マテリアルテクノ（カスタム製） [#a6cb7446]
CENTER:&ref(scd.jpg,nolink,超臨界乾燥試験機);
**フーリエ変換赤外分光光度計 (FTIR)：島津 IRAffinity-1 [#v6991c7c]
CENTER:&ref(ftir.jpg,nolink,フーリエ変換赤外分光光度計 (FTIR));
**紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR)：日本分光 V-670（積分球ユニットISN-723つき） [#zf6da98c]
CENTER:&ref(uv.jpg,nolink,紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR));
**力学試験機：島津 Autograph AG-Xplus（可変温度下での引張、一軸圧縮、三点曲げ試験に対応） [#t22718d1]
CENTER:&ref(autograph.jpg,nolink,力学試験機new);
**真空パージ式チューブ炉：光洋サーモシステム KTF434N1 [#n28fe694]
CENTER:&ref(tube-furnace.jpg,nolink,真空パージ式チューブ炉);
**自動接触角計：Kyowa Interface Science Co., Ltd. Drop Master (DM-561Hi) [#g651aa17]
CENTER:&ref(contact.jpg,nolink,自動接触角計);
**高速液体クロマトグラフ[#kf41fddd]
CENTER:&ref(hplc.jpg,nolink,高速液体クロマトグラフ);&br;&br;
CENTER:&ref(hplc2.jpg,nolink,高速液体クロマトグラフ);
**ゲル濾過クロマトグラフィー装置：島津 Prominence GPCシステム [#ob02b9c2]
CENTER:&ref(gpc.jpg,nolink,GPC);
**レーザー回折式粒度分布測定装置：島津 SALD-2200[#kf912636]
CENTER:&ref(sald.jpg,nolink,レーザー回折式粒度分布測定装置);
**熱流計：NETZSCH HFM 436 Lambda (HFM 436/3/1) [#x337a6a3]
CENTER:&ref(hfm.jpg,nolink,熱流束計);
**光学顕微鏡：Leica DM2700M [#v2eddfb1]
CENTER:&ref(om.jpg,nolink,光学顕微鏡);
**動的粘弾性測定装置：UBM Rheogel-E 4000 [#f055f031]
CENTER:&ref(dma.jpg,nolink,動的粘弾性測定装置);
**かさ密度計：Micromeritics GeoPyc 1360 [#i2a9089d]
CENTER:&ref(gp.jpg,nolink,かさ密度計);
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